电子元器件引脚不良品筛查系统

HyperV-04型

电子元器件引脚不良品筛查系统
HyperV-04型

电子元器件引脚不良品筛查系统

产品概览

产品简介

测量对象    电子元器件引脚部分

测量内容    引脚缺失、引脚上翘、熔焊过多、夹线不良,胶水附着、夹线爪 子变形、皮膜附着等

特点1    精准定位引脚区域

 

基于人工智能算法,结合电子元器件的二维图像和深度信息,实现精准定位。

 

 

 

特点2    深度学习智能筛查

 

  • 参照电子元器件质检筛查标准,通过大数据学习,模拟人脑进行分析检测,自动估计引脚的损坏程度
  • AI学习引擎加持下,使用时间越长,检测结果越精确。

 

 

 

特点3    全自动

 

  • 自动定位引脚区域
  • 与上下料机械手配合,整个检测过程无需人工干预

 

 

HyperV-04技术参数

 

测量对象    电子元器件引脚部分

测量内容    引脚缺失、引脚上翘、熔焊过多、夹线不良,胶水附着、夹线爪 子变形、皮膜附着等

特点1    精准定位引脚区域

 

基于人工智能算法,结合电子元器件的二维图像和深度信息,实现精准定位。

 

 

 

特点2    深度学习智能筛查

 

  • 参照电子元器件质检筛查标准,通过大数据学习,模拟人脑进行分析检测,自动估计引脚的损坏程度
  • AI学习引擎加持下,使用时间越长,检测结果越精确。

 

 

 

特点3    全自动

 

  • 自动定位引脚区域
  • 与上下料机械手配合,整个检测过程无需人工干预

 

 

HyperV-04技术参数

 

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